| 1 | 成分 | GB/T17359-2012
ASTM E1508 |
钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-840
钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-6510 场发射扫描电子显微镜 JSM-7001F |
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| 2 | 重量 | METTLER TOLEDO | ||
| 3 | 膜层厚度 | ASTM B748-90（2010） | 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-6510
场发射扫描电子显微镜 JSM-7001F |
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| 4 | 断口分析 | GB/T17359-2012 、JY/T 010-1996 | 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-6510
场发射扫描电子显微镜 JSM-7001F |
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| 5 | 扫描电子显微镜分析 | GB/T17359-2012、JY/T 010-1996 | 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-840 | 成分或形貌分析、多区域、不同放大倍数形貌分析、形貌观察及能谱分析 |
| 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-6510 | ||||
| 场发射扫描电子显微镜 JSM-7001F | ||||
| 透射电子显微镜分析 | QB-DJ-01-2016 | 场发射透射电子显微镜 Tecnai G2 F20
高分辨电子显微镜 JEM-2010 |
形貌、高分辨、电子衍射、能谱 |
检测电话：13315985213,0311-68072620